Live monitoring of atomic layer deposition by ambient pressure x-ray photoelectron spectroscopy

Aktivitet: Föredrag eller presentationInbjuden talare

Detaljer

Titel Live monitoring of atomic layer deposition by ambient pressure x-ray photoelectron spectroscopy
Person och roll
Beskrivning
Dato/periode

2017 aug 21

Relaterade organisationer
2017 aug 21

Extern organisation (Offentlig sektor)

NamnNational Institute of Standards and Technology (NIST)
LandUSA