An Even-Odd DFD Technique for Scan Chain Diagnosis

Forskningsoutput: KonferensbidragKonferenspaper, ej i proceeding/ej förlagsutgivet

Detaljer

Författare
Externa organisationer
  • External Organization - Unknown
Forskningsområden

Ämnesklassifikation (UKÄ) – OBLIGATORISK

  • Elektroteknik och elektronik
Originalspråkengelska
StatusPublished - 2009
PublikationskategoriForskning
Peer review utfördJa
Externt publiceradJa
EvenemangWorkshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) - Hongkong, Kina
Varaktighet: 2009 nov 272009 nov 28

Konferens

KonferensWorkshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)
LandKina
OrtHongkong
Period2009/11/272009/11/28