Real-time Monitoring of the Surface Chemistry of Atomic Layer Deposition by Ambient Pressure X-ray Photoelectron Spectroscopy

Aktivitet: Föredrag eller presentationInbjuden talare

Beskrivning

Inbjuden talare vid 66th International Symposium and Exhibition of the American Vacuum Society
Period2019 okt. 21
Evenemangstitel66th International Symposium and Exhibition of the American Vacuum Society
Typ av evenemangKonferens
PlatsColumbus, USA, OhioVisa på karta
OmfattningInternationell