Återgå till huvudnavigering
Återgå till sök
Gå direkt till huvudinnehållet
Lunds universitet Hem
English
Svenska
Hem
Profiler
Forskningsoutput
Projekt
Enheter
Infrastruktur
Aktiviteter
Priser och utmärkelser
Sök efter expertis, namn eller tillhörighet
Ivan Maximov
Docent, Universitetslektor
Universitetslektor
,
Fasta tillståndets fysik
Principal Investigator
,
NanoLund: Centre for Nanoscience
Profilområdesmedlem
,
LTH profilområde: Nanovetenskap och halvledarteknologi
Profilområdesmedlem
,
LU profilområde: Ljus och material
Universitetslektor
,
Sentio: Integrated Sensors and Adaptive Technology for Sustainable Products and Manufacturing
https://orcid.org/0000-0003-1944-4878
Telefon
+46703580258, +46462223185
E-postadress
ivan.maximov
ftf.lth
se
Översikt
Fingeravtryck
Nätverk
Forskningsoutput
(99)
Projekt
(2)
Aktiviteter
(84)
Liknande profiler
(12)
Handlett arbete
(2)
Fingeravtryck
Utforska forskningsämnen där Ivan Maximov är aktiv. Dessa ämnesetiketter kommer från personens arbeten. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.
Sortera efter
Vikt
Alfabetisk ordning
Material Science
Adhesion
6%
Adsorption
7%
Aluminum
10%
Aluminum Oxide
8%
Block Copolymer
25%
Characterization
26%
Current-Voltage Characteristic
6%
Density
10%
Detector
11%
Devices
100%
Dielectric Material
15%
Diode
12%
Electrical Property
20%
Electrode
16%
Electron Transfer
15%
Electronic Circuit
11%
Film
23%
Gallium Arsenide
10%
Gas
8%
Heterojunction
12%
III-V Semiconductor
6%
Indium
6%
Indium Gallium Arsenide
28%
Lithography
98%
Metal
23%
Microscopy
9%
Microstructure
6%
Nanocrystalline Material
18%
Nanoparticle
9%
Nanowire
44%
Novel Device
7%
Oxidation Reaction
7%
Particle
17%
Poly Methyl Methacrylate
12%
Polymers
37%
Polystyrene
16%
Quantum Dot
9%
Quantum Well
7%
Reactive Ion Etching
23%
Scanning Electron Microscopy
9%
Semiconductor Material
14%
Silicon
31%
Silicon Dioxide
11%
Surface
16%
Surface Area
7%
Switch
8%
Temperature
53%
Transistor
28%
Water
9%
Wire
12%
Engineering
Arsenide
5%
Bias Voltage
5%
Building Block
5%
Characteristics
14%
Cleaning
8%
Contact Point
7%
Development
8%
Dielectrics
9%
Electrical Measurement
6%
Electron Optical Lithography
17%
Electronics
10%
Experiments
8%
Fabrication
30%
Feature Size
7%
Functionality
9%
Fused Silica
9%
Heterojunctions
7%
High-κ Dielectric
6%
III-V Semiconductor
6%
Nanoelectronics
23%
Nanoimprint Lithography
31%
Nanomaterial
5%
Nanometre
9%
Nanoscale
6%
Networks (Circuits)
6%
Room Temperature
21%
Semiconductor
6%
Temperature
6%
Terminal Ballistics
45%
Transistor
11%
Voltage
13%