Best paper award at IEEE Asian Test Symposium (ATS)
- Larsson, Erik (Mottagare), Arvidsson, Klas (Mottagare), Fujiwara, Hideo (Mottagare) & peng, zebo (Mottagare)
Pris: Pris (inklusive medaljer och utmärkelser)
Pris: Pris (inklusive medaljer och utmärkelser)