Band bending at the heterointerface of GaAs/InAs core/shell nanowires monitored by synchrotron X-ray photoelectron spectroscopy

B. Khanbabaee, G. Bussone, J. V. Knutsson, I. Geijselaers, C. E. Pryor, T. Rieger, N. Demarina, D. Grützmacher, M. I. Lepsa, R. Timm, U. Pietsch

Forskningsoutput: TidskriftsbidragArtikel i vetenskaplig tidskriftPeer review

Fingeravtryck

Fördjupa i forskningsämnen för ”Band bending at the heterointerface of GaAs/InAs core/shell nanowires monitored by synchrotron X-ray photoelectron spectroscopy”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.

Engineering

Material Science