Fingeravtryck
Fördjupa i forskningsämnen för ”Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.- Sortera efter
- Vikt
- Alfabetisk ordning
Impact of Temperature-Induced Oxide Defects on HfxZr1−xO2 Ferroelectric Tunnel Junction Memristor Performance
Forskningsoutput: Tidskriftsbidrag › Artikel i vetenskaplig tidskrift › Peer review
44
Nedladdningar
(Pure)