Measuring the properties of semiconductor nanowires with transmission electron microscopy

Forskningsoutput: Kapitel i bok/rapport/Conference proceedingKapitel samlingsverkForskningPeer review

Fingeravtryck

Fördjupa i forskningsämnen för ”Measuring the properties of semiconductor nanowires with transmission electron microscopy”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.

Material Science

Engineering