Ptychographic characterization of a coherent nanofocused X-ray beam

Alexander Björling, Sebastian Kalbfleisch, Maik Kahnt, Simone Sala, Karolis Parfeniukas, Ulrich Vogt, Gerardina Carbone, Ulf Johansson

Forskningsoutput: TidskriftsbidragArtikel i vetenskaplig tidskriftPeer review

Sammanfattning

The NanoMAX hard X-ray nanoprobe is the first beamline to take full advantage of the diffraction-limited storage ring at the MAX IV synchrotron and delivers a high coherent photon flux for applications in diffraction and imaging. Here, we characterize its coherent and focused beam using ptychographic analysis. We derive beam profiles in the energy range 6-22 keV and estimate the coherent flux based on a probe mode decomposition approach.

Originalspråkengelska
Sidor (från-till)5069-5076
Antal sidor8
TidskriftOptics Express
Volym28
Nummer4
DOI
StatusPublished - 2020 feb. 17

Ämnesklassifikation (UKÄ)

  • Atom- och molekylfysik och optik (Här ingår: Kemisk fysik, kvantoptik)

Fingeravtryck

Utforska forskningsämnen för ”Ptychographic characterization of a coherent nanofocused X-ray beam”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.

Citera det här