Fingeravtryck
Fördjupa i forskningsämnen för ”RF reliability of gate last InGaAs nMOSFETs with high-k dielectric”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.- Sortera efter
- Vikt
- Alfabetisk ordning
RF reliability of gate last InGaAs nMOSFETs with high-k dielectric
Guntrade Roll, Mikael Egard, Sofia Johannson, Lars Ohlsson, Lars Erik Wernersson, Erik Lind
Forskningsoutput: Kapitel i bok/rapport/Conference proceeding › Konferenspaper i proceeding › Peer review