Test Cost Reduction of 3D Stacked ICs: Test Planning and Test Flow Selection

Breeta Sengupta

Forskningsoutput: AvhandlingDoktorsavhandling (monografi)

339 Nedladdningar (Pure)

Fingeravtryck

Fördjupa i forskningsämnen för ”Test Cost Reduction of 3D Stacked ICs: Test Planning and Test Flow Selection”. Tillsammans bildar de ett unikt fingeravtryck.

Ingenjörs- och materialvetenskap